Кафедра інформаційних технологій електронних засобів (Кафедра ІТЕЗ)
Permanent URI for this community
Browse
Browsing Кафедра інформаційних технологій електронних засобів (Кафедра ІТЕЗ) by Issue Date
Now showing 1 - 20 of 305
Results Per Page
Sort Options
Item Метод интервального анализа для допусковых задач проектирования и производства(ООО Научно-техническое предприятие "Вираж-Центр", 1999) Шило, Галина Миколаївна; Шило, Галина Николаевна; Shilo, Galina M.; Василега, Микола Михайлович; Василега, Николай Михайлович; Vasilega, Mykola M.; Гапоненко, Микола Прокопович; Гапоненко, Николай Прокофьевич; Gaponenko, Mykola P.UK: У роботі результати досліджень показують, що застосування різних початкових наближень впливає на швидкість і збіжність рішення задачі і залежність їх від ширини інтервалів, розмірності системи і наявності нульсодержащіх елементів. При домінуючих значеннях інтервальних коефіцієнтів головної діагоналі швидкість збіжності рішення задачі зростає. Зменшення значень елементів головної діагоналі призводить до зростання впливу на швидкість вирішення завдання нульсодержащіх елементів, що проявляється у збільшенні кількості ітерацій, появі коренів у вигляді зворотних інтервалів або неможливості взагалі отримання рішення задачі (виникає зациклення). У реальних допускових завданнях найбільш перспективним для визначення початкових наближень є використання методів середніх коренів і середніх коефіцієнтів. Кількість ітерацій при використанні методу послідовних наближень не перевищувало розмірності системи. EN: The work research shows that the use of different initial approximations affect the speed and convergence of solution of the problem, and their dependence on the width of the slot, the dimension of the system and the availability nulsoderzhaschih elements. When the dominant values of the diagonal coefficients interval speed of convergence of the solution of the problem increases. Decreasing values of the elements of the main diagonal leads to an increase in the influence of the speed of solving the problem nulsoderzhaschih elements that appears to increase the number of iterations, the appearance of roots in the form of inverse slots or inability to obtain all solutions of the problem (there is a loop). The real problems of tolerance to determine the most promising initial approximation is the use of methods of secondary roots and secondary factors. The number of iterations using the method of successive approximations does not exceed the dimensions of the system. RU: В работе исследование показывает, что применение разных начальных приближений влияет на скорость и сходимость решения задачи и зависимость их от ширины интервалов, размерности системы и наличии нульсодержащих элементов. При доминирующих значениях интервальных коэффициентов главной диагонали скорость сходимости решения задачи возрастает. Уменьшение значений элементов главной диагонали приводит к росту влияния на скорость решения задачи нульсодержащих элементов, что проявляется в увеличении количества итераций, появлении корней в виде обратных интервалов или невозможности вообще получения решения задачи (возникает зацикливание). В реальных допусковых задачах наиболее перспективным для определения начальных приближений является использование методов средних корней и средних коэффициентов. Количество итераций при использовании метода последовательных приближений не превышало размерности системы.Item Інтервальний розрахунок допусків при зовнішніх впливах(Національний університет "Львівська політехніка", 2000) Шило, Галина Миколаївна; Шило, Галина Николаевна; Shilo, Galina M.; Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Гапоненко, Микола Прокопович; Гапоненко, Николай Прокофьевич; Gaponenko, Mykola P.UK: У роботі зовнішні впливи у загальному випадку розширяють межі допусків при виробництві і експлуатації електронних апаратів. Компенсація дії зовнішніх впливів на номінальне відхилення параметрів можлива тільки при складанні контрольованих величин. У цьому випадку відхилення параметрів залишаються рівними їх номінальним значенням в усьому діапазоні зовнішніх впливів. При множенні величин компенсаційна умова виконується тільки для одного значення амплітуди узагальненого зовнішнього впливу. Віднімання і ділення контрольованих величин не приводить до повного виключення дії зовнішніх впливів. Але їх дія може бути мінімізована. EN: The work external influences generally extends the boundaries tolerances the production and operation of electronic devices. Compensation of external influences nominal deviation parameters is only possible in the preparation of controlled values. In this case, the deviation parameters remain equal to their nominal the value of the entire range of external influences. When multiplying the amount of compensation condition is only one value of the amplitude of the generalized external influence. Subtraction and division controlled variables does not lead to the full exclusion of external influences. But their action can be minimized. RU: В работе внешние воздействия в общем случае расширяют пределы допусков при производстве и эксплуатации электронных аппаратов. Компенсация действия внешних воздействий на номинальное отклонение параметров возможна только при составлении контролируемых величин. В этом случае отклонения параметров остаются равными их номинальным значением во всем диапазоне внешних воздействий. При умножении величин компенсационное условие выполняется только для одного значения амплитуды обобщенного внешнего влияния. Вычитания и деления контролируемых величин не приводит к полному исключению воздействия внешних воздействий. Но действие может быть минимизировано.Item Технологія та конструювання мікросхем і мікрозбірок(Запорізький національний технічний університет, 2004) Антоненко, Олександр Степанович; Антоненко, Александр Степанович; Antonenko, Olexandr S.; Пономаренко, Олена Степанівна; Пономаренко, Елена Степановна; Ponomarenko, Olena S.UK: Методичні вказівки до виконання курсового проекту з дисципліни «Технологія та конструювання мікросхем і мікрозбірок» EN: Methodical instructions to the academic year project on discipline "Technology and designing chipsand microassemblies" RU: Методические указания по выполнению курсового проекта по дисциплине "Технология и конструирование микросхем и микросборок"Item Технологія та конструювання мікросхем і мікрозбірок(Запорізький національний технічний університет, 2004) Антоненко, Олександр Степанович; Антоненко, Александр Степанович; Antonenko, Olexandr S.; Пономаренко, Олена Степанівна; Пономаренко, Елена Степановна; Ponomarenko, Olena S.UK: Методичні вказівки до виконання курсового проекту з дисципліни «Технологія та конструювання мікросхем і мікрозбірок» EN: Methodical instructions to the academic year project on discipline "Technology and designing chipsand microassemblies" RU: Методические указания по выполнению курсового проекта по дисциплине "Технология и конструирование микросхем и микросборок"Item Технологія та конструювання мікросхем(Запорізький національний технічний університет, 2004) Антоненко, Олександр Степанович; Антоненко, Александр Степанович; Antonenko, Olexandr S.; Пономаренко, Олена Степанівна; Пономаренко, Елена Степановна; Ponomarenko, Olena S.UK: Методичні вказівки до виконання лабораторної роботи № 1 “Розрахунки та проектування плівкових елементів мікросхем” з дисципліни «Технологія та конструювання мікросхем» EN: Methodological guidelines forlaboratory work№1 "calculation and design elementsof filmmicrocircuits" discipline "Technology and design of chips" RU: Методические указания по выполнению лабораторной работы №1"Расчеты и проектированиепленочныхэлементовмикросхем" по дисциплине "Технология и конструирование микросхем"Item Технологія та конструювання мікросхем і мікрозбірок(Запорізький національний технічний університет, 2004) Антоненко, Олександр Степанович; Антоненко, Александр Степанович; Antonenko, Olexandr S.; Пономаренко, Олена Степанівна; Пономаренко, Елена Степановна; Ponomarenko, Olena S.UK: Методичні вказівки до виконання лабораторної роботи № 4 “Технологія мікроконтактування” з дисципліни «Технологія та конструювання мікросхемі мікрозбірок» EN: Methodological guidelines forlaboratory work№4 "technology microcontact" discipline "Technology and designing chipsandmicroassemblies" RU: Методические указания по выполнению лабораторной работы №4"Технологиямикроконтактирования" по дисциплине "Технология и конструирование микросхем и микросборок"Item Розрахунково-графічні завдання з дисципліни “Фізико-теоретичні основи конструювання електронних апаратів”(Запорізький національний технічний університет, 2005) Шинкаренко, Едуард Миколайович; Шинкаренко, Эдуард Николаевич; Shynkarenko, Eduard M.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання розрахунково-графічного завдання з дисципліни “Фізико-теоретичні основи конструювання електронних апаратів” EN: Methodical recommendations and guidance on the implementation of the settlement and graphical tasks on discipline "Physics and the theoretical foundations of designing electronic devices" RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению расчетно-графического задания по дисциплине «Физико- теоретические основы конструирования электронных аппаратов»Item Лабораторні роботи з іновацій у техніці(Запорізький національний технічний університет, 2006) Перегрін, Генадій Ростиславович; Перегрин, Геннадий Ростиславович; Peregrin, Genady R.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.; Башмакова, Людмила Іванівна; Башмакова, Людмила Ивановна; Bashmakova, Ludmyla IUK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни 'Іновації у техніці' EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline 'Іnnovations in engineering' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине 'Инновации в технике'Item Лабораторні роботи з САПР(Запорізький національний технічний університет, 2006) Шило, Галина Миколаївна; Шило, Галина Николаевна; Shilo, Galina M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Основи геометричного та графічного моделювання" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline 'Fundamentals of geometric and graphic simulation' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "основы геометрического и графического моделирования"Item Лабораторні роботи з САПР(Запорізький національний технічний університет, 2006) Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Основи геометричного та графічного моделювання" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline 'Fundamentals of geometric and graphic simulation' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "основы геометрического и графического моделирования"Item Лабораторні роботи з САПР(Запорізький національний технічний університет, 2006) Височін, Віктор Олександрович; Высочин, Виктор Александрович; Vysotschin, Viktor O; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Основи геометричного та графічного моделювання" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline 'Fundamentals of geometric and graphic simulation' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "основы геометрического и графического моделирования"Item Исследование допусковых ограничений в конструкциях микрополосковых фильтров с учетом вида аппроксимации АЧХ(Запорізький національний технічний університет, 2006) Міщенко, Марина Володимирівна; Mishchenko, Maryna V.; Мищенко, Марина Владимировна; Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Карпуков, Леонід Матвійович; Карпуков, Леонид Матвеевич; Karpukov, Leonid M.; Фарафонов, Олексій Юрійович; Фарафонов, Алексей Юрьевич; Farafonov, Olexy Y.UK: Проведено дослідження допускових обмежень на геометричні розміри конструкцій мікросмужкових фільтрів з урахуванням виду апроксимації амплітудно-частотної характеристики, які забезпечують задані характеристики фільтра. Синтез фільтрів виконується на основі фільтрів-прототипів нижніх частот. Розрахунок допусків виконується з використанням інтервальних моделей. Врахування впливу технології виготовлення топології фільтрів здійснюється шляхом введення вагових коефіцієнтів. EN: Probing tolerance limitings on the geometrical sizes constructions of the microstrip filters is carried out. Also, view of approximation amplitude-freguency characteristics, providing the necessary characteristics of the filter take into account. The syntesis of filters is fulfilled on the basis filter-prototypes of the lower frequencies. Cflculation of tolerances is made with usage of interval models. The discount agency of manufacture technology og the filters topology is carried out by introduction of weight coefficient. RU: Проведено исследование допусковых ограничений на геометрические размеры конструкций микрополосковых фильтров с учетом вида аппроксимации амплитудно-частотной характеристики, обеспечивающих заданные характеристики фильтра. Синтез фильтров выполняется на основе фильтров-прототипов нижних частот. Расчет допусков производится с использованием интервальных моделей. Учет влияния технологии изготовления топологии фильтров осуществляется путем введения весовых коэффициентов.Item Лабораторна робота з дисципліни “Основи електромагнітної сумісності”(Запорізький національний технічний університет, 2007) Шинкаренко, Едуард Миколайович; Шинкаренко, Эдуард Николаевич; Shynkarenko, Eduard M.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторної роботи «Дослідження спотворень форми сигналу в лініях зв'язку цифрових пристроїв» EN: These guidelines and instructions to the laboratory work «Investigation of waveform distortion in lines of digital devices» RU: Приведенные методические рекомендации и указания к выполнению лабораторной работы «Исследование искажений формы сигнала в линиях связи цифровых устройств»Item Інтервальні структури та їх застосування(Тернопільський національний економічний університет Науково-дослідний інститут інтелектуальних комп'ютерних систем, 2007) Шило, Галина Миколаївна; Шило, Галина Николаевна; Shilo, Galina M.UK: У роботі інтервальні структури є ефективним інструментом опису процесів, які відбуваються при зовнішніх впливах на електронні апарати і призводять до зміни параметрів елементів та вихідних функцій. Різноманітність структур дозволяє реалізувати різні види оцінювання властивостей апаратури. Застосування гіллястих інтервальних структур дозволяє враховувати не тільки інтервальні величини зовнішніх впливів, але і інтервальний характер параметрів взаємодії зовнішніх чинників та параметрів елементів. Запропоновані правила виконання операцій над інтервальними структурами та їх перетворення дозволяють утворювати інтервально-структурні рівняння для оцінювання вихідних функцій і проводити розкладання таких структур. Це спрощує та розділяє процедури призначення коефіцієнтів зовнішніх впливів і номінальних відхилень параметрів, дозволяє використовувати при їх призначенні різні стратегії. EN: The work interval structures is efficient tool for description of processes, which proceed in electronic devices under external actions and result in deviations of parameters and output functions. Different kinds of structures allow to use different estimations of radio electronic device characteristics. Offered rules of arithmetic operations above interval structures allow to estimate output characteristics of electronic devices. Rules of transforming the structures are used to separate the procedure of assigning coefficients of external influences from procedure of assigning nominal deviations of parameters. Such approach allow to use difference criteria of optimizations. RU: В работе интервальные структуры является эффективным инструментом описания процессов, происходящих при внешних воздействиях на электронные аппараты и приводят к изменению параметров элементов и выходных функций. Разнообразие структур позволяет реализовать различные виды оценки свойств аппаратуры. Применение ветвистых интервальных структур позволяет учитывать не только интервальные величины внешних воздействий, но и интервальный характер параметров взаимодействия внешних факторов и параметров элементов. Предложенные правила выполнения операций над интервальными структурами и их преобразования позволяют образовывать интервальные-структурные уравнения для оценки выходных функций и проводить разложение таких структур. Это упрощает и разделяет процедуры назначения коэффициентов внешних воздействий и номинальных отклонений параметров, позволяет использовать при их назначении различные стратегии.Item Оптимізація конструктивних параметрів мікросмужкової лінії з урахуванням конструктивно-технологічних обмежень(Запорізький національний технічний університет, 2007) Поспеєва, Ірина Євгенівна; Шинкаренко, Едуард Миколайович; Pospeeva, Iryna E.; Shinkarenko, Eduard M.; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Шинкаренко, Эдуард НиколаевичUK: Розглядається перетворення моделі, що пов'язує параметри мікросмужкової лінії, у нелінійне рівняння з відомими електричними параметрами EN: The transformation of the model connecting the parameters of a microstrip line to a nonlinear equation with known electrical parameters is considered. RU: Рассматривается преобразование модели, связывающей параметры микрополоской линии, в нелинейное уравнение с известными электрическими параметрамиItem Эвристическая роль ошибки. Ошибка как инструмент познания профессионального роста специалиста(Запорізький національний технічний університет, 2008) Поспеєва, Ірина Євгенівна; Перегрін, Генадій Ростиславович; Соріна, Оксана Анатоліївна; Pospeeva, Iryna E.; Peregrin, Gennadiy R.; Sorina, Oxcana A.; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Перегрин, Геннадий РостиславовичUK: Розглянуто багаторічний досвід навчання студентів на чужих помилках та самостійного отримання знань шляхом вивчення теорії вирішення дослідницьких задач, функціонально-вартісного метода та проведення ділових ігор. EN: The long-term experience of teaching students on the mistakes of others and the independent acquisition of knowledge by studying the theory of solving inventive problems, functional cost analysis and conducting business games are considered. RU: Рассматривается многолетний опыт обучения студентов на чужих ошибках и самостоятельного получения знаний путем изучения теории решения изобретательских задач, функционально-стоимостного анализа и проведения деловых игр.Item Использование СУБД в процессе проектирования РЭС(Запорізький національний технічний університет, 2008) Поспеєва, Ірина Євгенівна; Куляба, Тетяна Іванівна; Pospeeva, Iryna E.; Kulyaba, Tatyana I.; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Куляба, Татьяна ИвановнаUK: Розглядається можливість адаптації баз даних КП НВК «Іскра» до CALS технологій з використанням СУБД Imbase.EN: The possibility of adapting the database of KP SPC “Iskra” to CALS technologies using the Imbase DBMS is being considered. RU: Рассматривается возможность адаптации баз данных КП НПК «Искра» к CALS технологиям с использованием СУБД Imbase.Item Аналіз можливостей спільного використання АСК КП НВК «Іскра» з CALS-технологіями(Запорізький національний технічний університет, 2008) Поспеєва, Ірина Євгенівна; Петров, Віктор Володимирович; Pospeeva, Iryna E.; Petrov, Victor V.; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Петров, Виктор ВладимировичUK: Розглядається можливість спільного використання баз даних КП НВК «Іскра» з CALS технологіями EN: Considers database sharing the database of KP SPC “Iskra” with CALS-technologies RU: Рассматривается возможность совместного использования баз данных КП НПК «Искра» к CALS технологиямItem Лабораторна робота №1 з дисципліни "Конструювання та технології радіоелектронної апаратури"(Запорізький національний технічний університет, 2008) Фарафонов, Олексій Юрійович; Фарафонов, Алексей Юрьевич; Farafonov, Olexy Y.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторної роботи з розробки конструкторської схеми складання та технічного паспорту радіоелектронних виробів. EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work by development of design scheme of assembly and technical certificate of radioelectronic products. RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторной работы по разработке конструкторской схемы сборки и технического паспорта радиоэлектронных изделий.Item Лабораторна робота №2 з дисципліни "Конструювання та технології радіоелектронної апаратури"(Запорізький національний технічний університет, 2008) Фарафонов, Олексій Юрійович; Фарафонов, Алексей Юрьевич; Farafonov, Olexy Y.; Пономаренко, Олена Степанівна; Пономаренко, Елена Степановна; Ponomarenko, Olena S.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторної роботи з розробки конструкторської схеми складання та маршрутного технологічного процесу складання радіоелектронних виробів EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work by development design scheme of assembly and route process assembly of radioelectronic products RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторной работы по разработке конструкторской схемы сборки и маршрутного технологического процесса сборки радиоэлектронных изделий