Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчання

Коротун, Андрій ВіталійовичKorotun, Andrii V.Смирнова, Ніна АнатоліївнаSmirnova, Nina A.Василенко, Ольга ВалентинівнаVasylenko, Olga V.2025-04-012025-04-012025https://eir.zp.edu.ua/handle/123456789/20268Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчання / Укл.: А.В. Коротун, Н.А. Смирнова, Н.М. Нагорна, О.В. Василенко. – Запоріжжя: НУ «Запорізька політехніка», 2025. – 70 с.EN: B методичних вказівках можна знайти інформацію та завдання до лабораторних робіт за такими темами: - дослідження прямої гілки вольт-амперної характери-стики діода - дослідження температурної залежності зворотної гіл-ки вах діода - визначення опору бази діода - дослідження вах діода в області теплового пробою - дослідження вах діода при лавинному пробої - біполярний транзистор EN: In the methodological instructions you can find information and tasks for laboratory work on the following topics: - study of the direct branch of the voltage-ampere characteristics-junctions of a diode - study of the temperature dependence of the reverse branch of a diode input characteristics - determination of the resistance of the diode base - study of a diode input characteristics in the thermal breakdown region - study of a diode input characteristics during avalanche breakdown - bipolar transistorukтепловий пробойлавинний пробойбіполярний транзисторthermal breakdownavalanche breakdownbipolar transistorМетодичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчанняMethodical instructions for laboratory practical work on the discipline "Elements and components of electronic systems" for students of specialties: 175 "Information and measuring technologies", educational program: "Information monitoring and control systems"; 176 "Micro- and nanosystem engineering", educational program: "Micro- and nanoelectronic devices and devices" of the first (bachelor's) level of higher education of full-time and part-time forms of studyMethodological guidelines