Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання.

Коротун, Андрій ВіталійовичKorotun, Andrii V.Рева, Віталій ІгоровичReva, Vitalii I.Омельченко, Ольга Станіславівна2024-09-232024-09-232024https://eir.zp.edu.ua/handle/123456789/16714Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання/ Укл.: А. В. Коротун, В. І. Рева. – Запоріжжя: НУ «Запорізька політехніка», 2024. – 35 с.ukпохибкавимірюваннякалібруванняmeasurementerrorcalibrationМетодичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання.Methodological instructions for laboratory practicum in the discipline " Basics of metrology and information-measuring technology " for bachelors of the specialty 175 " Information and measurement technologies" (educational program "Information systems of monitoring and control"); 176 "Micro- and nanosystem engineering", (educational program "Micro- and nanoelectronic devices and devices" full-time and part-time forms of education.Methodological guidelines