Толстолуцька, Вероніка ВолодимирівнаTolstoluts'ka, VeronikaТолстолуцкая, Вероника Владимировн2021-03-232021-03-232020http://eir.zntu.edu.ua/handle/123456789/7269Толстолуцька В. В. Дослідження факторів, які впливають на роздільність електронного просвічувального мікроскопа: магістерська робота / В. В. Толстолуцька – Запоріжжя: НУ «Запорізька політехніка», 2020. – 68 с.UK: Розглянуто вплив аберацій, дробового і теплового шуму на роздільну здатність ПЕМ. Виконано розрахунки зміщення фокусу магнітної системи, спричиненого шумами в корпусі приладу, і граничної роздільної здатності для типових значень параметрів ПЕМ. EN: The influence of aberrations, fractional and thermal noise on the TEC resolution is considered. Calculations are made of the displacement of the focus of the magnetic system caused by noise in the device case and the limiting resolution for typical values of the TEC parameters. RU: Рассмотрено влияние аберраций, дробного и теплового шума на разрешение ПЭС. Выполнены расчеты смещение фокуса магнитной системы, вызванного шумами в корпусе прибора, и предельной разрешения для типичных значений параметров ПЭС.ukПросвічувальний електронний мікроскопРоздільна здатністьМагнітні лінзиTransmission electron microscopeResolutionMagnetic lensesПросвечивающей электронный микроскопРазрешениеМагнитные линзыMaster thesis