Browsing by Author "Krishchuk, Volodymyr M."
Now showing 1 - 11 of 11
Results Per Page
Sort Options
Item Исследование допусковых ограничений в конструкциях микрополосковых фильтров с учетом вида аппроксимации АЧХ(Запорізький національний технічний університет, 2006) Міщенко, Марина Володимирівна; Mishchenko, Maryna V.; Мищенко, Марина Владимировна; Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Карпуков, Леонід Матвійович; Карпуков, Леонид Матвеевич; Karpukov, Leonid M.; Фарафонов, Олексій Юрійович; Фарафонов, Алексей Юрьевич; Farafonov, Olexy Y.UK: Проведено дослідження допускових обмежень на геометричні розміри конструкцій мікросмужкових фільтрів з урахуванням виду апроксимації амплітудно-частотної характеристики, які забезпечують задані характеристики фільтра. Синтез фільтрів виконується на основі фільтрів-прототипів нижніх частот. Розрахунок допусків виконується з використанням інтервальних моделей. Врахування впливу технології виготовлення топології фільтрів здійснюється шляхом введення вагових коефіцієнтів. EN: Probing tolerance limitings on the geometrical sizes constructions of the microstrip filters is carried out. Also, view of approximation amplitude-freguency characteristics, providing the necessary characteristics of the filter take into account. The syntesis of filters is fulfilled on the basis filter-prototypes of the lower frequencies. Cflculation of tolerances is made with usage of interval models. The discount agency of manufacture technology og the filters topology is carried out by introduction of weight coefficient. RU: Проведено исследование допусковых ограничений на геометрические размеры конструкций микрополосковых фильтров с учетом вида аппроксимации амплитудно-частотной характеристики, обеспечивающих заданные характеристики фильтра. Синтез фильтров выполняется на основе фильтров-прототипов нижних частот. Расчет допусков производится с использованием интервальных моделей. Учет влияния технологии изготовления топологии фильтров осуществляется путем введения весовых коэффициентов.Item Лабораторні роботи "Розрахунки власних резонансних частот прямокутних пластин"(Запорізький національний технічний університет, 2010) Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Зовнішні впливи та захист РЕЗ" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline ''External influences and protection of RED' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "Внешние воздействия и защита РЭС"Item Лабораторні роботи з проектування електронної апаратури(Запорізький національний технічний університет, 2011) Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Методи та засоби дослідження РЕЗ" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline ''Methods and means test of RED' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "Методы и средства испытаний РЭС"Item Лабораторні роботи з проектування електронної апаратури(Запорізький національний технічний університет, 2010) Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Методи та засоби дослідження РЕЗ" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline ''Methods and means test of RED' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "Методы и средства испытаний РЭС"Item Лабораторні роботи з проектування електронної апаратури(Запорізький національний технічний університет, 2010) Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Зовнішні впливи та захист РЕЗ" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline ''External influences and protection of RED' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "Внешние воздействия и защита РЭС"Item Лабораторні роботи з проектування електронної апаратури(Запорізький національний технічний університет, 2010) Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Зовнішні впливи та захист РЕЗ" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline ''External influences and protection of RED' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "Внешние воздействия и защита РЭС"Item Лабораторні роботи з проектування електронної апаратури(Запорізький національний технічний університет, 2011) Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Поспеєва, Ірина Євгенівна; Поспеева, Ирина Евгеньевна; Pospeeva, Iryna E.UK: Наведені методичні рекомендації та вказівки до виконання лабораторних робіт з дисципліни "Методи та засоби дослідження РЕЗ" EN: Methodical recommendations and instructions for laboratory work on discipline ''Methods and means test of RED' RU: Приведены методические рекомендации и указания по выполнению лабораторных работ по дисциплине "Методы и средства испытаний РЭС"Item Методика проектування мікросмужкових фільтрів НВЧ на основі фракталів(Запорізький національний технічний університет, 2015) Крищук, Володимир Миколайович; Фарафонов, Олексій Юрійович; Фурманова, Наталія Іванівна; Krishchuk, Volodymyr M.; Farafonov, Olexy Y.; Furmanova, Nataliya I.; Крищук, Владимир Николаевич; Фарафонов, Алексей Юрьевич; Фурманова, Наталия ИвановнаUK: Розглянуто особливості проектування мікросмужкових смугопропускаючих фільтрів з топологією у вигляді фракталів. EN: The features of designing microstrip bandpass filters with topology in the form of fractals are considered. RU: Рассмотрены особенности проектирования микрополосковых полосопропускающих фильтров с топологией в виде фракталов.Item Моделювання багатопровідних зв'язаних мікросмужкових ліній у квазідинамічному наближенні з урахуванням неоднорідностей топології(Запорізький національний технічний університет, 2013) Міщенко, Марина Володимирівна; Мищенко, Марина Владимировна; Mishchenko, Maryna V.; Фарафонов, Олексій Юрійович; Фарафонов, Алексей Юрьевич; Farafonov, Olexy Y.; Сіциліцин, Юрій Олександрович; Сицилицин, Юрий Александрович; Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Романенко, Сергій Миколайович; Романенко, Сергей Николаевич; Romanenko, Sergiy M.; Sitsilitsin, Youriy O.UK: У роботі розглядається методика розрахунку схем багатопровідних зв’язаних мікросмужкових ліній (МСЛ), яка основана на використанні квазідинамічного підходу при моделюванні регулярних ділянок одиночних і зв’язаних ліній та квазістатичного наближення при врахуванні неоднорідностей топології. Така методика забезпечує сумірну з результатами електродинамічного моделювання в системах HFSS та MWO точність розрахунків, а також забезпечує необхідну гнучкість при врахуванні ємнісних неоднорідностей схеми та допускових обмежень на геометричні параметри топології. Перевагою методики є також можливість розрахунку некоординатної топології схеми, моделювання якої в системах HFSS та MWO викликає деякі складності. Порівняння результатів моделювання спрямованого відгалужувача (СВ) на двох зв’язаних МСЛ за представленою методикою та в системі HFSS показало відхилення в межах 5 %. EN: The calculation technique of coupled multiconductor microstrip line circuit based on the use of quasi-dynamic approach for the modelling of regular regions of single and coupled lines and quasi-static approximation for the analysis of topology discontinuities effects is presented in this paper. This technique provides results comparable to electrodynamic modelling accuracy in HFSS, MWO, and provides the flexibility to account for capacitive discontinuities and tolerable limits of geometric parameters of the topology. The advantage of the technique considered is the ability to calculate non-coordinate topologies. Modelling of these topologies in HFSS and MWO causes some difficulty. The computations of the directional coupler transition attenuation for two coupled microstrip lines in quasi-static and quasi-dynamic approximations without taking into account discontinuity topology effects and quasi-dynamic approximation with taking into account discontinuities topology effects are accomplished. The formulas for determination the dispersion of the effective dielectric permittivity in quasi-dynamic approximation and formulas for determination of the scattering matrix of multiconductor coupled lines with the transition to single lines or loads are presented. The directional coupler under consideration was modelled in HFSS and the results were compared with presented calculations. Deviations between results do not exceed 5 %. RU: В работе рассмотрена методика расчета схем на многопроводных связанных МПЛ, основанная на использовании квазидинамического подхода при моделировании регулярных участков одиночных и связанных линий и квазистатического приближения при учете неоднородностей топологии. Такая методика обеспечивает соизмеримую с результатами электродинамического моделирования в системах HFSS и MWO точность расчетов, а также обеспечивает необходимую гибкость при учете емкостных неоднородностей схемы и допусковых ограничений на геометрические параметры топологии. Преимуществом методики является также возможность расчета некоординатной топологии схемы, моделирование которой в системах HFSS и MWO вызывает некоторые сложности. Сравнение результатов моделирования направленного ответвителя на двух связанных МПЛ по представленной методике и в системе HFSS показало отклонение в пределах 5 %.Item Технології виробництва радіопоглинаючих матеріалів(Запорізький національний технічний університет, 2016) Крищук, Володимир Миколайович; Фурманова, Наталія Іванівна; Krishchuk, Volodymyr M.; Furmanova, Nataliya I.; Крищук, Владимир Николаевич; Фурманова, Наталия ИвановнаUK: Запропоновано використання тривимірного друку для виробництва радіопоглинаючих матеріалів. EN: The use of 3D-printing for manufacturing of radioabsorbing materials is proposed. RU: Предложено использование трехмерной печати для производства радиопоглощающих материалов.Item Інтервальний розрахунок допусків при зовнішніх впливах(Національний університет "Львівська політехніка", 2000) Шило, Галина Миколаївна; Шило, Галина Николаевна; Shilo, Galina M.; Крищук, Володимир Миколайович; Крищук, Владимир Николаевич; Krishchuk, Volodymyr M.; Гапоненко, Микола Прокопович; Гапоненко, Николай Прокофьевич; Gaponenko, Mykola P.UK: У роботі зовнішні впливи у загальному випадку розширяють межі допусків при виробництві і експлуатації електронних апаратів. Компенсація дії зовнішніх впливів на номінальне відхилення параметрів можлива тільки при складанні контрольованих величин. У цьому випадку відхилення параметрів залишаються рівними їх номінальним значенням в усьому діапазоні зовнішніх впливів. При множенні величин компенсаційна умова виконується тільки для одного значення амплітуди узагальненого зовнішнього впливу. Віднімання і ділення контрольованих величин не приводить до повного виключення дії зовнішніх впливів. Але їх дія може бути мінімізована. EN: The work external influences generally extends the boundaries tolerances the production and operation of electronic devices. Compensation of external influences nominal deviation parameters is only possible in the preparation of controlled values. In this case, the deviation parameters remain equal to their nominal the value of the entire range of external influences. When multiplying the amount of compensation condition is only one value of the amplitude of the generalized external influence. Subtraction and division controlled variables does not lead to the full exclusion of external influences. But their action can be minimized. RU: В работе внешние воздействия в общем случае расширяют пределы допусков при производстве и эксплуатации электронных аппаратов. Компенсация действия внешних воздействий на номинальное отклонение параметров возможна только при составлении контролируемых величин. В этом случае отклонения параметров остаются равными их номинальным значением во всем диапазоне внешних воздействий. При умножении величин компенсационное условие выполняется только для одного значения амплитуды обобщенного внешнего влияния. Вычитания и деления контролируемых величин не приводит к полному исключению воздействия внешних воздействий. Но действие может быть минимизировано.