Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчання

Abstract

EN: B методичних вказівках можна знайти інформацію та завдання до лабораторних робіт за такими темами: - дослідження прямої гілки вольт-амперної характери-стики діода - дослідження температурної залежності зворотної гіл-ки вах діода - визначення опору бази діода - дослідження вах діода в області теплового пробою - дослідження вах діода при лавинному пробої - біполярний транзистор EN: In the methodological instructions you can find information and tasks for laboratory work on the following topics: - study of the direct branch of the voltage-ampere characteristics-junctions of a diode - study of the temperature dependence of the reverse branch of a diode input characteristics - determination of the resistance of the diode base - study of a diode input characteristics in the thermal breakdown region - study of a diode input characteristics during avalanche breakdown - bipolar transistor