Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчання
| dc.contributor.author | Коротун, Андрій Віталійович | |
| dc.contributor.author | Korotun, Andrii V. | |
| dc.contributor.author | Смирнова, Ніна Анатоліївна | |
| dc.contributor.author | Smirnova, Nina A. | |
| dc.contributor.author | Василенко, Ольга Валентинівна | |
| dc.contributor.author | Vasylenko, Olga V. | |
| dc.date.accessioned | 2025-04-01T10:48:38Z | |
| dc.date.available | 2025-04-01T10:48:38Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.description | Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчання / Укл.: А.В. Коротун, Н.А. Смирнова, Н.М. Нагорна, О.В. Василенко. – Запоріжжя: НУ «Запорізька політехніка», 2025. – 70 с. | |
| dc.description.abstract | EN: B методичних вказівках можна знайти інформацію та завдання до лабораторних робіт за такими темами: - дослідження прямої гілки вольт-амперної характери-стики діода - дослідження температурної залежності зворотної гіл-ки вах діода - визначення опору бази діода - дослідження вах діода в області теплового пробою - дослідження вах діода при лавинному пробої - біполярний транзистор EN: In the methodological instructions you can find information and tasks for laboratory work on the following topics: - study of the direct branch of the voltage-ampere characteristics-junctions of a diode - study of the temperature dependence of the reverse branch of a diode input characteristics - determination of the resistance of the diode base - study of a diode input characteristics in the thermal breakdown region - study of a diode input characteristics during avalanche breakdown - bipolar transistor | |
| dc.identifier.uri | https://eir.zp.edu.ua/handle/123456789/20268 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Національний університет «Запорізька політехніка» | |
| dc.subject | тепловий пробой | |
| dc.subject | лавинний пробой | |
| dc.subject | біполярний транзистор | |
| dc.subject | thermal breakdown | |
| dc.subject | avalanche breakdown | |
| dc.subject | bipolar transistor | |
| dc.title | Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Елементи та компоненти електронних систем” для студентів спеці-альностей: 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“, освітня програма: „Інформаційні системи моніторингу і контролю“; 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, освітня програма: „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“ першого (бакалаврського) рівня вищої освіти денної й заочної форм навчання | |
| dc.title.alternative | Methodical instructions for laboratory practical work on the discipline "Elements and components of electronic systems" for students of specialties: 175 "Information and measuring technologies", educational program: "Information monitoring and control systems"; 176 "Micro- and nanosystem engineering", educational program: "Micro- and nanoelectronic devices and devices" of the first (bachelor's) level of higher education of full-time and part-time forms of study | |
| dc.type | Methodological guidelines |