Нуль дефектів ‒ новий вимір у забезпеченні якості

Simple item page
dc.contributor.authorСніжной, Геннадій Валентинович
dc.contributor.authorІгнатов, А. А.
dc.date.accessioned2024-04-05T07:29:25Z
dc.date.available2024-04-05T07:29:25Z
dc.date.issued2023
dc.descriptionСніжной Г. В. Нуль дефектів ‒ новий вимір у забезпеченні якості / Г. В. Сніжной, А. А. Ігнатов// Тиждень науки-2023. Факультет радіоелектроніки та телекомунікацій. Тези доповідей науково-технічної конференції, Запоріжжя, 24-28 квітня 2023 р. / Редкол. : В. Шаломєєв (відпов. ред.) Електрон. дані. – Запоріжжя : НУ «Запорізька політехніка», 2023. – С. 28-29.uk
dc.identifier.urihttp://eir.zntu.edu.ua/handle/123456789/12883
dc.language.isoukuk
dc.publisherНУ «Запорізька політехніка»uk
dc.subjectMicrochip Technology Incorporateduk
dc.subjectЯкістьuk
dc.titleНуль дефектів ‒ новий вимір у забезпеченні якостіuk
dc.typeThesisuk

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
S_Snizhnoi1.pdf
Size:
46.22 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Тези доповідей науково-технічної конференції
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download

Collections

Тиждень науки-2023. Факультет радіоелектроніки та телекомунікацій