Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання.
Loading...
Date
2024
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Національний університет «Запорізька політехніка»
Abstract
Description
Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання/ Укл.: А. В. Коротун, В. І. Рева. – Запоріжжя: НУ «Запорізька політехніка», 2024. – 35 с.
Keywords
похибка, вимірювання, калібрування, measurement, error, calibration