Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання.
| dc.contributor.author | Коротун, Андрій Віталійович | |
| dc.contributor.author | Korotun, Andrii V. | |
| dc.contributor.author | Рева, Віталій Ігорович | |
| dc.contributor.author | Reva, Vitalii I. | |
| dc.contributor.author | Омельченко, Ольга Станіславівна | |
| dc.date.accessioned | 2024-09-23T10:56:35Z | |
| dc.date.available | 2024-09-23T10:56:35Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description | Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання/ Укл.: А. В. Коротун, В. І. Рева. – Запоріжжя: НУ «Запорізька політехніка», 2024. – 35 с. | |
| dc.identifier.uri | https://eir.zp.edu.ua/handle/123456789/16714 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Національний університет «Запорізька політехніка» | |
| dc.subject | похибка | |
| dc.subject | вимірювання | |
| dc.subject | калібрування | |
| dc.subject | measurement | |
| dc.subject | error | |
| dc.subject | calibration | |
| dc.title | Методичні вказівки до лабораторного практикуму з дисципліни „Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки “ для студентів спеціальностей 175 „Інформаційно-вимірювальні технології“ (освітня програма „Інформаційні системи моніторингу і контролю“); 176 „Мікро- та наносистемна техніка“, (освітня програма „Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої“) денної та заочної форм навчання. | |
| dc.title.alternative | Methodological instructions for laboratory practicum in the discipline " Basics of metrology and information-measuring technology " for bachelors of the specialty 175 " Information and measurement technologies" (educational program "Information systems of monitoring and control"); 176 "Micro- and nanosystem engineering", (educational program "Micro- and nanoelectronic devices and devices" full-time and part-time forms of education. | |
| dc.type | Methodological guidelines |